Исследование методов силовой микроскопии и влияния основных элементов сканирующего зондового микроскопа, с целью улучшения систем защиты от внешних воздействий
Статья в сборнике трудов конференции
DOI: 10.21661/r-498015
Open Access
- Опубликовано в:
- VIII Международная научно-практическая конференция «Научные исследования и современное образование»
- Автор:
- Чуприна Е.А. 1
- Рубрика:
- Технические науки (электромеханика, приборостроение, машиностроение, металлургия и др.)
- Рейтинг:
- Статья просмотрена:
- 1152 раз
- Размещено в:
- eLibrary.ru
1 ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники»
- ГОСТ
Для цитирования:
Чуприна Е. А. Исследование методов силовой микроскопии и влияния основных элементов сканирующего зондового микроскопа, с целью улучшения систем защиты от внешних воздействий: сборник трудов конференции. // Научные исследования и современное образование : материалы VIII Междунар. науч.-практ. конф. (Чебоксары, 27 сент. 2019 г.) / редкол.: О. Н. Широков [и др.] – Чебоксары: Центр научного сотрудничества «Интерактив плюс», 2019. – С. 109-112. – ISBN 978-5-6043527-2-4. – DOI 10.21661/r-498015.
- Полный текст
- Метрики
УДК 69
DOI: 10.21661/r-498015
Аннотация
В статье рассматриваются современные методы сканирования поверхности наноструктур, влияние особенностей составляющих узлов микроскопа на работу конструкции. Отдельно рассмотрены факторы внешнего воздействия, влияющие на работу микроскопа и системы защиты от них.
Ключевые слова
Список литературы
- 1. Бараш Ю.С. Силы Ван-дер-Ваальса / Ю.С. Бараш. – М.: Наука, 1988.
- 2. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии / В.Л. Миронов. – М.: Техносфера, 2004.
- 3. Суслов А.А. Сканирующие зондовые микроскопы (обзор) / А.А. Суслов, С.А. Чижик // Материалы, Технологии, Инструменты. – 1997. – Т.2, №3. – С. 78–89.
- 4. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии / В.Л. Миронов. – М.: Техносфера, 2004. – 143 с.
- 5. Сканирующая зондовая микроскопия / под ред. И.Г. Яминского. – М.: Научный мир, 1997. – 88 с.
- 6. Неволин В.К. Основы зондовой нанотехнологии / В.К. Неволин. – М.: Изд-во МГИЭТ (ТУ), 1996. – 91 с.
- 7. Эдельман В.С. Сканирующая силовая микроскопия (обзор) / В.С. Эдельман // Приборы и техника эксперимента. – 1989. – №5. – С. 25–49.
Комментарии(0)