Исследование методов силовой микроскопии и влияния основных элементов сканирующего зондового микроскопа, с целью улучшения систем защиты от внешних воздействий
Аннотация
в статье рассматриваются современные методы сканирования поверхности наноструктур, влияние особенностей составляющих узлов микроскопа на работу конструкции. Отдельно рассмотрены факторы внешнего воздействия, влияющие на работу микроскопа и системы защиты от них.
подробнее