Список публикаций по ключевому слову: «кантилевер»
Технические науки (электромеханика, приборостроение, машиностроение, металлургия и др.)
Дата публикации: 26.09.2019 г.
Оцените материал Средняя оценка: 0 (Всего: 0)
ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники» , Москва г
«Исследование методов силовой микроскопии и влияния основных элементов сканирующего зондового микроскопа, с целью улучшения систем защиты от внешних воздействий»
В статье рассматриваются современные методы сканирования поверхности наноструктур, влияние особенностей составляющих узлов микроскопа на работу конструкции. Отдельно рассмотрены факторы внешнего воздействия, влияющие на работу микроскопа и системы защиты от них.